*一个紧凑的单元中综合了如下功能：精密电压源、高精度电流源、数字多用表、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、电子负载以及触发控制器 代码后向兼容2 6 0 0系列数字源表，便于更换 TSP? Express软件工具实现快速、便捷的I-V测试 精密定时和信道同步（<500ns）
* 执行并行测试，获得无以伦比的吞吐量* 20,000读数/秒提供更快的测试时间和能力，捕捉器件瞬态性能
* 系列产品提供宽动态范围： 1fA~10A和1μV~200V
* TSP-Link?总线支持每GPIB或IP地址多达32单元/64通道的通道扩展
* 测试脚本处理器（TSP?）以极高的系统自动化在仪器中执行完整的测试程序（脚本）
* USB端口用于保存数据和测试脚本
* LXI Class C兼容性提供高速数据传输并且实现快捷地远程测试、监控和排错
应用方案：
对多种器件进行I-V函数测试和特性分析，包括：
-分立的和无源的元器件
-双引脚–电阻、盘驱动器头、金属氧化物变阻器(MOV)、二极管、齐纳二极管、传感器、电容器、热敏电阻
-三引脚–双极型小信号晶体管(BJT)场效应晶体管(FET)等
-并行测试–双引脚、三引脚元器件阵列
-简单集成电路–光学、驱动器、开关、传感器
集成的器件-小规模集成(SSI)和大规模集成(LSI)
-模拟IC
-射频集成电路(RFIC)
-应用定制的集成电路
-系统级芯片(SOC)器件
光电器件如发光二极管(LED)、激光二极管、高亮度LED(HBLED)、垂直共振腔面射型激光器(VCSEL)、显示器
晶圆级可靠性
NBTI、TDDB、HCI、电迁移
太阳能电池
